真空衰減法 微泄漏 密封測(cè)試儀/檢漏儀

真空衰減法微泄漏密封測(cè)試儀/檢漏儀，DHS640是一臺(tái)具有雙傳感器雙循環(huán)檢測(cè)技術(shù)的真空衰減法包裝容器密閉完整性測(cè)試儀，方法符合USP1207、《化學(xué)藥品注射劑仿制藥質(zhì)量和療效一致性評(píng)價(jià)技術(shù)要求》、《化學(xué)藥品注射劑包裝系統(tǒng)密封性研究技術(shù)指南》。

技術(shù)原理：測(cè)試儀主機(jī)連接到一個(gè)特別設(shè)計(jì)來容納需要被測(cè)試包裝的測(cè)試腔體。包裝被置于要被抽真空的實(shí)驗(yàn)腔內(nèi)并對(duì)腔體抽真空，通過檢測(cè)容器保壓階段的差壓pa來反應(yīng)容器泄漏情況,根據(jù)方法開發(fā)的閾值來判斷產(chǎn)品合格/不合格。可以檢測(cè)到1μm的包裝泄漏。同時(shí)基于雙循環(huán)的檢測(cè)模式可實(shí)現(xiàn)在微漏檢測(cè)能力的同時(shí)，覆蓋大漏檢出能力。

具體參數(shù)：

真空衰減法檢漏儀技術(shù)參數(shù)